OP5340(膜厚儀)
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關鍵詞:
半導體設備、半導體工藝
所屬分類:
產品描述
Opti-Probe 5000 用於非接觸式晶圓膜厚測量,通過測量(liàng)單層或多層晶圓上薄膜的光學參數(反射光和建模的薄膜參數),計算出薄膜厚度(dù)。Opti-Probe 5000 集成了多達(dá)六種不同的技術來測量(liàng)薄(báo)膜厚度以及反(fǎn)射率,使用 laser,white light lamp,D2 lamp 等光源進行(háng)測量。
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